根據GB/T 18852-2020/IS012715:2014標準給出了超聲波接觸式探頭聲速特性測試的參考試塊規格型號及圖紙介紹，標準推薦了兩種金屬參考試塊,分別為半圓階梯試塊(HS試塊)和橫孔試塊(SDH試塊)。

半圓階梯試塊(HS試塊)

半圓階梯(HS)試塊的尺寸,見圖1所示。該試塊應由實心圓柱體金屬加工而成。在試塊加工成圓柱體階梯狀后,沿圓柱軸線剖開,加工到規定的表面狀態。半圓階梯的半徑分別為20mm、40mm、50mm、80mm、91 mm和100 mm。半徑為20 mm~80 mm的階梯寬度為 25 mm,半徑為100 mm的階梯寬度為30mm,半徑為9lmm的階梯寬度為28mm。在100mm和91mm階梯之間有一條半徑為 85 mm 的凹槽,槽寬2mm。沿槽中心的X軸,HS試塊分割成軸對稱的中心線Y軸,以及相鄰階梯邊界線均應在其表面刻線標識。試塊宜置于適宜的試塊架上使用。試塊架不應損傷試塊,也不應因支撐對試塊產生聲學性能影響。

橫孔試塊(SDH試塊)

橫孔(SDH)試塊的尺寸,見圖2所示。試塊長300mm,寬25mm,高100mm。試塊上加工8個孔徑均為1.5 mm的橫孔。橫孔的標識分別為SDH、SDH:、SDH、SDH、SDH、SDH、SDH 和SDH:。橫孔的長軸應平行于試塊頂面和底面。試塊表面的標識分別為T-面、B-面、R-面、L-面和F-面。SDH下角標數值,表示橫孔中心到T-面的距離。例如,標識為SDH。的孔中心到T-面的距離為2 mm。標識為SDH的孔中心到 B面、R-面和T-面的距離分別為40mm,50mm和60mm。SDH,到1.-面的距離為40 mm,相鄰孔的間距為 30mm。在 F-面近 B-面的邊緣用短刻線標識折射角(0°~70°)。試塊加工完成后,可在任一F-面上刻上該材質的標稱縱波和橫波聲速。

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